集成芯片測試儀器測試方法

　　集成芯片測試儀器是在元器件中芯片、半導體、集成電路測試中使用的，無(wú)錫冠亞的集成芯片測試儀器在使用的時(shí)候需要注意其測試方法，爭取更有效的運行集成芯片測試儀器。

　　集成芯片測試儀器運行的時(shí)候按管腳功能圖連接好測試線(xiàn)(壓控晶振壓控端接地)，置于高低溫箱。集成芯片測試儀器在-40℃下存放1小時(shí)，開(kāi)機測試起振時(shí)間不大于3秒。集成芯片測試儀器分別在-40℃、+25℃、+75℃加電各保持一小時(shí)后測試頻率。集成芯片測試儀器頻率溫度穩定性按下式確定：f-T穩定性=±(fmax - fmin)/fmax +fmin)。

　　集成芯片測試儀器將測試源、被測晶振及RM99A相噪測試儀(連接電腦)通電預熱半小時(shí)，給晶振的頻率調諧端提供合適的壓控電壓，將晶振頻率校準到標頻，調整相噪測試儀的微調旋鈕，使儀器的失鎖燈處于關(guān)閉狀態(tài)，且指針?lè )€定在0刻度無(wú)抖動(dòng)。此時(shí)可以開(kāi)始測試，并在電腦上生成測試曲線(xiàn)，可直接讀出各點(diǎn)的噪聲值。

　　不同集成芯片測試儀器的使用方法可能有寫(xiě)區別，建議用戶(hù)根據相應集成芯片測試儀器型號設備的說(shuō)明書(shū)進(jìn)行使用。（本文來(lái)源網(wǎng)絡(luò )，如有侵權，請聯(lián)系刪除，謝謝。）